Prueba de obleas criogénicas: ventajas y aplicaciones explicadas
Revolucione su proceso de prueba de semiconductores con la solución de prueba de obleas criogénicas de Euchang Tech. Co., Ltd. Nuestro sistema de última generación está diseñado para satisfacer las demandas de prueba de dispositivos semiconductores de alto rendimiento a temperaturas extremas. Con nuestra plataforma de prueba de obleas criogénicas, puede garantizar resultados precisos y confiables incluso en las condiciones más desafiantes. El sistema está equipado con tecnología avanzada de gestión térmica para mantener temperaturas precisas en toda la oblea, lo que permite una prueba integral del rendimiento del dispositivo a niveles criogénicos. Esta capacidad es especialmente crucial para evaluar la funcionalidad de los dispositivos semiconductores en el espacio, la computación cuántica y otras tecnologías emergentes. Además de su excepcional control de temperatura, nuestra solución de prueba de obleas criogénicas también ofrece capacidades de prueba de alto rendimiento, lo que garantiza procesos de prueba de semiconductores eficientes y rentables. La plataforma está diseñada con funciones fáciles de usar para agilizar la operación y maximizar la productividad. Asóciese con Euchang Tech. Co., Ltd. para llevar sus pruebas de semiconductores al siguiente nivel con nuestra innovadora solución de prueba de obleas criogénicas
- Placa de superficie de granito de 36 x 48
- Soporte indicador de placa de superficie
- Placa de superficie de granito de gran tamaño
- Calibración de mesa de granito
- Placa de superficie de 24 x 36
- Mesa de superficie para ingenieros
- Placa de superficie de granito de 12 x 18
- Placa de superficie de granito de 12 x 12
- Placa de superficie de 12 x 18
- Placa de superficie Aa